20世纪90年代的大部分时间，笔者都是在美国的硅谷度过的，当时的美国及许多国家的电子商店都充斥着日本产品。所谓的小巧、轻薄——“轻薄短小”是日本产品的压倒性的优势和特点。现在我们通过各种途径获得了上世纪90年代、2000年以后的等距今20-30年前的具有历史性（Historical）意义的产品，并进行定期分解。并不是为了与今天的产品进行对比，而是为了汇总当时机械地（Mechanical）组合的产品如何被今天的电子产品所取代的。Solo 100/101/108 伸缩式接入杆

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澄江Solo200-001探测器拆卸工具英国SOLO消防用品不确定性是始终存在的，对误差来源的评估可以帮助确定测量的不确定度。除上述外，还有一些相关术语在依据美国国家标准与技术研究所（NIST）或其它标准机构的说明文件来描绘性能时会有用。可描述性是保证所有的测量器件有一个共同的基准所必须的。所谓“规范”是指保证性能由校准溯源到NIST的测试设备产生。“典型”往往意味着性能是百分之百测试，但不包括测量不确定因素。“象征性”的表现通常是补充信息，不是在每个仪器上的普遍测量。Solo 461 无绳热探测器测试仪

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LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。假如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想办法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想办法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。l 探测器制造商认可 l 超安全——无电缆绊倒 l 快速

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